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再現性はどのように計算するのか？

2023-07-13WIKI

レーザー回折式粒度分布測定における再現性とは、同一試料を同一測定条件で短時間に複数回測定したときの測定差のことです。再現性は以下の条件で特徴付けられます：

同じ測定条件、同じ場所で、同じ測定手順に従って測定すること。

測定は同じオペレータが実施する。

試料は同一であること。

測定に使用する粒度分析装置は同じであること。

測定は短時間で繰り返す。

D50 などの粒度チャンネルごとの再現性の計算を以下に示します：

ここで，nは測定回数（通常 n ≥10），xi は個々の測定結果，x_iは測定結果の平均，δは標準偏差である．

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レーザー回折式粒度分布測定では、特に粒子が微細な場合、懸濁液中で粒子が凝集することにより、不正確な結果が生じることがあります。そのため、測定前の試料の完全な分散が不可欠です。

湿式媒体中で溶解または凝集する、あるいは媒体と反応する試料は、通常、乾式分散法を用いて分析される。

オブスキュレーションとは、測定ゾーンの粒子によって散乱・吸収される光の割合のことで、懸濁液の濃度を示す。

サンプル分析に先立ち、バックグラウンド測定を行う必要がある。バックグラウンド測定は、光学信号と電気信号の両方で構成される。

屈折率は、光線がある媒質から別の媒質へと通過する際に曲げられる度合いを表す。吸収係数は、光線が物質を透過する度合いを表す。

異常なバックグラウンド信号の原因は様々です。異常なバックグラウンド信号の排除は、まずサンプルセルを検査し、次にレーザー光源とレンズを検査し、最後にアライメントシステムを検査する必要があります。

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